JTAG 緊張應(yīng)用于:電路的邊界掃描測(cè)試與可編程芯片的在線體系編程。
JTAG是英文“Joint Test Action Group(團(tuán)結(jié)測(cè)試舉動(dòng)構(gòu)造)”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫,該構(gòu)造創(chuàng)建于1985 年,是由幾家緊張的電子生產(chǎn)廠商提倡制定的PCB 與IC 測(cè)試尺度。
JTAG 發(fā)起于1990 年被IEEE 答應(yīng)為IEEE1149.1-1990 測(cè)試訪問(wèn)端口與邊界掃描布局尺度。該尺度劃定了舉行邊界掃描所必要的硬件與軟件。自從1990 年答應(yīng)后,IEEE 分別于1993 年與1995 年對(duì)該尺度作了增補(bǔ),形成了現(xiàn)在利用的IEEE1149.1a-1993 與IEEE1149.1b-1994。